Difractómetros XRD y espectrómetros XRF para análisis de materiales, control de fases cristalinas y caracterización elemental en farmacia, geología, metalurgia y nuevos materiales.
Todos los productos
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Difracción y dispersión de rayos X
Técnica de análisis de materiales en polvo que entrega composición de fases y tamaño de cristalitos por difracción de rayos X.
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Espectrómetros XRF
Técnica ampliamente usada en minería, petróleo, metalurgia, ambiente y arqueología para análisis elemental por fluorescencia de rayos X.
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Cristalografía
Determinación de estructura 3D de materiales cristalinos a nivel atómico para química, biología, ciencia de materiales y física.
Imagenología y END
END, CT y microscopía por rayos X para inspección industrial no destructiva e investigación académica de materiales.
Análisis térmico
Conjunto de técnicas para investigar propiedades físicas y químicas de materiales en función de la temperatura.
Metrología de semiconductores
Los instrumentos de Metrología de Semiconductores de Rigaku permiten medir y analizar con precisión materiales y dispositivos.
Control de procesos
Rigaku ofrece instrumentos de control de procesos que realizan análisis elemental en línea por EDXRF o por transmisión de rayos X.
Raman portátil
Rigaku Analytical Devices es pionera en tecnología Raman portátil de 1064 nm para análisis de materiales.
NSI (X-ray CT y END)
Fuentes de rayos X, aceleradores de partículas y sistemas de alto voltaje fabricados por Newton Scientific Instruments.
Componentes
Repuestos y componentes para instrumentación de rayos X destinada a investigación, industria y entornos académicos.
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Accesorios
Accesorios para equipos Rigaku con disponibilidad de cotización, demostraciones y soporte técnico especializado.
LabLinc Studio (software)
Software de integración con hardware de automatización y flujos asistidos por IA para síntesis, medición y análisis de materiales.