Difracción y dispersión de rayos X

La difracción de rayos X (XRD) es una técnica científica versátil ampliamente utilizada para analizar materiales en polvo, ofreciendo información sobre su composición de fases y el tamaño de los cristalitos. Analizando las posiciones e intensidades de los picos de difracción, los investigadores pueden determinar los parámetros de red, la estructura cristalina y la composición de fases del material. XRD también se emplea en el análisis de tensiones, donde los cambios en el espaciado de la red por tensión o deformación mecánica se detectan como desplazamientos en las posiciones de los picos de difracción, lo que permite cuantificar las tensiones internas del material. La dispersión de rayos X de bajo ángulo (SAXS) es una técnica especializada de XRD que se usa para estudiar el tamaño, la forma y la estructura interna de objetos o rasgos a nanoescala dentro de un material en polvo. Midiendo la dispersión de los rayos X en ángulos pequeños, SAXS proporciona información sobre la distribución de tamaños, la morfología y la disposición de nanopartículas, poros u otras nanoestructuras presentes en la muestra. La difracción de rayos X cumple un rol clave en ciencia de materiales, metalurgia, geología e investigación farmacéutica, facilitando la caracterización y el desarrollo de materiales avanzados con propiedades a medida. Rigaku desarrolló una gama de difractómetros, en cooperación con usuarios académicos e industriales, que ofrecen las soluciones de difracción más avanzadas, versátiles y rentables disponibles hoy.